Calidad 6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face Fábrica

6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face

Name: 6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face
Brand: Dongguan Changxinda Precision Technology Co., Ltd.
SKU: Costumbre
Price: Negociable USD
Availability: InStock

Lugar de origen:Cantón, China

Nombre de la marca:China-CXD

Certificación:ISO9001

Número de modelo:Costumbre

Cantidad mínima de pedido:1 pieza (prototipo)

Precio:According to the drawings

Standard Packaging:Película protectora, espuma, cartón o caja de madera contrachapada.

Tiempo de entrega:7-15 días para muestras, 15-25 días para pedidos por lotes

Condiciones de pago:T/T, depósito del 30%, saldo antes del envío

Capacidad de suministro:2000 piezas por mes

Etiquetas:

cnc machining center

5-axis cnc machining

aluminum cnc machining

Detalles del producto

Resaltar:

Semiconductor Test Fixture Base

Coplanar Contact Fixture Base

0.01mm Thermal Stable Fixture Base

Part Type: Base del dispositivo de prueba de semiconductores

Machining: Fresado CNC de 3 ejes / 4 ejes / 5 ejes

Tolerance: ±0,01mm

Key Features: Cara de contacto coplanar, interfaz de enchufe, separadores aislados, alivio de enfriamiento

Material: Aluminio 6061/7075, acabado laminado o anodizado

Quality Control: Primer artículo, inspección dimensional en proceso y final.

Volume: Prototipo, lote pequeño, producción en masa

Applications: Probadores de quemado, estaciones de sonda, equipos de manipulación de semiconductores

Thermal: Masa equilibrada, diseñada para perfiles de temperatura de prueba.

Descripción de producto

Detailed Specifications & Features

Precision Semiconductor Test Fixture Bases Semiconductor test fixtures operate at the intersection of three requirements that pull against each other: contact force, thermal stability, and cleanliness. A probe or socket array needs a base that stays flat at temperature, holds contact position within microns, and does not shed particles into the test environment. Our semiconductor test fixture bases are machined with those three constraints treated as one problem, because

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