Qualidade 6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face Fábrica

6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face

Name: 6061 Aluminum CNC Machined Semiconductor Test Fixture Base Coplanar Contact Face
Brand: Dongguan Changxinda Precision Technology Co., Ltd.
SKU: Personalizado
Price: Negociável USD
Availability: InStock

Lugar de origem:Cantão, China

Nome da marca:China-CXD

Certificação:ISO9001

Número do modelo:Personalizado

Quantidade mínima do pedido:1 peça (protótipo)

Preço:According to the drawings

Standard Packaging:Película protetora, espuma, caixa ou caixa de madeira compensada

Tempo de entrega:7 a 15 dias para amostras, 15 a 25 dias para pedidos em lote

Condições de pagamento:T/T, depósito de 30%, saldo antes do envio

Capacidade de abastecimento:2.000 peças por mês

Etiquetas:

cnc machining center

5-axis cnc machining

aluminum cnc machining

Detalhes do produto

Destacar:

Semiconductor Test Fixture Base

Coplanar Contact Fixture Base

0.01mm Thermal Stable Fixture Base

Part Type: Base de dispositivo de teste de semicondutores

Machining: Fresamento CNC de 3 eixos / 4 eixos / 5 eixos

Tolerance: ±0,01 mm

Key Features: Face de contato coplanar, interface de soquete, espaçadores isolados, alívio de resfriamento

Material: Alumínio 6061/7075, acabamento fresado ou anodizado

Quality Control: Primeiro artigo, inspeção dimensional em processo e final

Volume: Protótipo, pequeno lote, produção em massa

Applications: Testadores de burn-in, estações de sonda, equipamentos de manuseio de semicondutores

Thermal: Massa balanceada, projetada para perfis de temperatura de teste

Descrição do produto

Detailed Specifications & Features

Precision Semiconductor Test Fixture Bases Semiconductor test fixtures operate at the intersection of three requirements that pull against each other: contact force, thermal stability, and cleanliness. A probe or socket array needs a base that stays flat at temperature, holds contact position within microns, and does not shed particles into the test environment. Our semiconductor test fixture bases are machined with those three constraints treated as one problem, because

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